Prestatieindicatoren

Werkband: 190nm-900nm

Golflengte nauwkeurigheid: ≤± 0.5nm

Herhaalbaarheid van golflengte: ≤0.3nm (eenrichting)

Spectrale bandbreedte: 0.2nm, 0.4nm, 0.7nm, 1.4nm, 2.4nm, 5.0nm

Stabiliteit van de basislijn: ≤0.004Abs/30min

Achtergrondcorrectie: >30 keer

Kenmerken van het product

1, goede baseline stabiliteit: zorgvuldig ontworpen dubbele straalsysteem kan automatisch compenseren voor de drifting van de lichtbron, de lamp hoeft niet voorverwarmd te zijn om het monster onmiddellijk te analyseren, is de analyse van een verscheidenheid van elementen en nood analysemonster gebruiker * instrument.

Hoge nauwkeurigheid van de analyse: een uniek ontworpen fijne lichtstraal passeert door de vlam, de basislijn is stabiel, waardoor de hoge nauwkeurigheid van de analyse van de meting en de detectiegrens laag zijn.

3, instrument optisch pad: het gebruik van een volledig reflectiesysteem, na een element tot licht, zijn alle elementen beeldvorming in * positie.

4, veilige en betrouwbare luchtweg systeem: unieke snelle gasconversie en veiligheid bescherming apparaat, waardoor de analyse element uit te breiden van meer dan 30 soorten tot meer dan 60 soorten, zowel lucht-acetyleen vlam analyse en stikstofoxide acetyleen vlam analyse.

Operatie in een Windows-omgeving, instrumentele omstandigheden en gegevens kunnen worden opgeslagen of opgeroepen. Kan worden afgedrukt: (1) instrumentele omstandigheden en meetomstandigheden; (2) de gegevens in de "meting"; (3) het monsterconcentratierapport, dat een lijst van de gemeten concentraties van elementen (tot 8 elementen) van een aantal monsters (tot 100) kan samenvoegen, kan worden opgeslagen voor toekomstige toegang tot oproepen.

6, lineaire methode, niet-lineaire methode en lineaire markeringstoevoeging, correctie van maximaal 10 monsters. Nadat de indeling is voltooid, worden afwisselend twee reeksen lineaire en niet-lineaire correctiecorven getekend voor de bepaling.

Ingebouwde statistische procedures kunnen het gemiddelde, de nominale afwijking, de relatieve standaardafwijking en de verwante coefficiënten berekenen om de metingsnauwkeurigheid van het instrument te bewaken en te verbeteren.

8, via de printer, afdrukken van de standaardcurve, atoomabsorptie piekkaart, spectrale contouren en gegevens.