EDX-serie x-fluorescentiespectrometer，EnergieverspreidingXStraalfluorescentiespectrometerToegepast opRoHS & WEEEInstructie analyseMeting van de dikte van verschillende metalen films, meting van de dikte van industriële coatings, halogeen instructiesClElementaire analyseAnalyse van de samenstelling van erts, grondstoffen, magnetische magnetische media en halfgeleiders en verschillende combinatiesAnalyse van goud en edelmetalen.
EDX-serie x-fluorescentiespectrometerBelangrijkste kenmerken
●Analyse van het elementbereikS-U

●Concentratiebereik van het analyseelement 2ppm—100%
●Continue stabiliteit van de hele machine8UrmetingRSD<0.25%
● ROHS/WEEEDetectietijd100-120seconden

●Elektrische koeling in de VSSi（Pin）Detector

●Elektrische koelingSi（Pin）Detector Kristaaloppervlakte15mm2Resolutie<155eV
●Volledig digitale pulsprocessortechnologie

●Uitstekende piekrugverhouding, zeer hoge spooranalysegevoeligheid

● 50KV,50WZelfbeschermingX-Stralen buizen

●Intelligente schakeltechnologie voor samengestelde filters

Kenmerken:

☆Analytische nauwkeurige analyse van lood in chloor en verf

☆IntegratieFPwet,AlphaFactoriële methode, empirische methode

☆Veilige verbinding, stralingsontwerp in combinatie met zacht en hard

☆Eenvoudige bediening met één klik

☆Slimme software voor automatische parameterinstelling en filterselectie

☆XOvertemperatuurbescherming tegen stralen

☆Elektronische koeling zonder vloeibare stikstof en andere verbruiksmaterialen

Technische specificaties