VIP-lid
Energieverspreiding Röntgenfluorescentiespectrometer EDX8800 (vacuüm)
Korte introductie: Energie dispersie röntgenfluorescentie spectrometer EDX8800 (vacuüm type) elementaire analyse bereikt van natrium (Na) tot uranium
Productdetails
Meer informatie:
Energieverspreiding Röntgenfluorescentiespectrometer EDX8800 (vacuüm)
Kenmerken van het product
Het gebruik van internationale geavanceerde Amerikaanse originele geïmporteerde SDD (SILICON DRIFT DETECTOR) silicium drift detector, hogere resolutie, sterk verbetert de detectiegrens van lichte elementen, de standaard detectiegrens is 100 keer hoger dan de SI-PIN-detector; Het meetbereik is breder en omvat in principe verschillende vereisten voor de analyse van conventionele materiaalelementen;
Configureer het originele Amerikaanse geïntegreerde verwerkingssysteem voor importgegevens, snellere gegevensverzameling, stabielere metingen, betere herhaalbaarheid en langdurige stabiliteit;
Configureer de nieuw ontwikkelde speciale meetsoftware, integreer meerdere grafische berekeningsmethoden, de meetgegevens zijn nauwkeuriger en stabieler;
4. De werkstaat van de belangrijkste kerncomponenten van het softwarebewakingsinstrument, sneller gebruik;
Configuratie van speciaal ontwikkelde vacuümsystemen, betere vacuümprestaties en betere testresultaten;
Technische parameters:
Elementaire analyse van natrium (Na) tot uranium (U)
Analyse van het elementsgehalte van 1 ppm tot 99,99%
Laag detectiegrens: 1ppm
Meettijd: 60-200 seconden (verstelbaar)
5. Werkstroom van het instrument: AC220 ± 5V
Energieresolutie 129±5eV
7. Röntgenstraalbuis grote uitgangsstroom: 1mA
Maximale druk: 6,7 x 10-2Pa
9. steekproefholte grootte: 610 * 320 * 100 (mm) (geen vacuüm pompen) / Φ100 * h75 (mm) (vacuüm steekproefholte)
Herhaalbaarheid van meerdere metingen (op basis van standaardmonsters): ± 0,05% (hoog gehalte) / ± 0,002% (sporen)
Langdurige werkstabiliteit (op basis van standaardmonsters) ±: 0,06% (hoog gehalte) / ± 0,0025% (sporen)
Online onderzoek
